双沿中断缺陷
注：编码器测量原理来源
鲜浩,任爱芝,盛仲飚. 增量式编码器数据采集[J ] .华北工业学院学报,2003 ,24 (2) :142 - 143.
一、问题背景：增量式编码器精确计数
1、正常情况下：编码器输出信号如下
当B相为高电平时，如果检测到A相有一个上升沿，则可说明波形从左向右运动，则令计数器加1；当B相为低电平时，如果检测到A相有一个上升沿，则可说明波形从右向左运动，则令计数器减1．
2、实际情况下：编码器输出信号如下
实际情况下：编码器输出信号如下
在B相的高电平期间，如编码器正好在A相的边沿位置来回旋转，而最终却没有产生角位移，这样会在B相高电平期间检测到无数个上升沿，会在计数器中加上很多次，这样，编码器并没有产生角位移，但却令相应的计数器加了很多次，从而引起了读数误差．
3、精确测量原理：
当A 相出现一个上升沿(即A 非相出现一个下降沿)，若检测到B为高电平，则用软件令计数器加1；当A相出现一个下降沿，若检测到B为高电平，则用软件令计数器减1．这样，两个计数器之差，则对应了编码器实际的角位移，而其正负对应了旋转方向．设置单片机外部中断的触发方式为下降沿触发，当INTO产生断，判断B为高电平，则令计数器减1；当INT1产生中断，判断B为高电平，则令计数器加1．
即：检测 下降沿
A相 （B为高，计数有效，+1，正向）
A非相（A上升沿）（B为低，计数无效，-1，反向）
（编码器一个脉冲，必定有上升沿和下降沿，）
二、问题发现：S3C2440（ARM9）测量过程
1、电平匹配
编码器输出脉冲（3600 , 0.1度），峰值为工作电压，12V；
控制器为CMOS电平，3.3V附近为高。
使用高速光耦 6N137 电平匹配，输入波形如下：
低速状况下：
A+B
高速状况下（转速在 700 圈/分钟 50 KHZ附近）：
A + B
2、计数程序及调试信息
中断处理函数如下
主程序工作频率：400M
为方便调试，只有外部中断EINT0( A相正 )，EINT1（A相 非，）工作，电机处于低速，消除串口打印延时误差
secureCRT 串口调试软件输出如下:
现象说明：在某个脉冲，MCU未能捕捉到 上升沿或下降沿，出现计数失步，累计误差严重。
三、误差来源猜想
在稳定转速下（脉冲=上升沿+下降沿），MCU捕捉边沿会出现错误。
猜测结论：ARM内核处理器，在捕捉同一周期，由同一脉冲转化而来的俩路边沿中断，会出现误差。
关于ARM9 外部中断细节资料很少，下图是 ARM嵌入式系统基础教程（周立功，北航，ARM7）关于边沿触发的讲解。
图片无法显示，调试过程见附件，求指导！
